坂口英司, 伊原彰紀, 松本健一, "OSS開発におけるテストコードの保守頻度 が与える欠陥混入への影響," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム (SES2015), 2015年9月.
ID 1102
分類 表彰・受賞
タグ
表題 (title) OSS開発におけるテストコードの保守頻度 が与える欠陥混入への影響
表題 (英文)
著者名 (author) 坂口英司,伊原彰紀,松本健一
英文著者名 (author) Hideshi Sakaguchi,Akinori Ihara,Kenichi Matsumoto
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Hideshi Sakaguchi,Akinori Ihara,Kenichi Matsumoto
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム (SES2015)
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2015
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote) インタラクティブ賞
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル SES2015_sakaguchi_final.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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