田村晃一, 亀井靖高, 上野秀剛, 森崎修司, 松村知子, 松本健一, "見逃し欠陥の回帰テスト件数を考慮したコードレビュー手法," 電子情報通信学会技術研究報告, 108(173), pp. 61-66 2008年7月.
ID 599
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) 見逃し欠陥の回帰テスト件数を考慮したコードレビュー手法
表題 (英文)
著者名 (author) 田村晃一,亀井靖高,上野秀剛,森崎修司,松村知子,松本健一
英文著者名 (author) Koichi Tamura,Yasutaka Kamei,Hidetake Uwano,Shuji Morisaki,Tomoko Matsumura,Ken-ichi Matsumoto
キー (key) Koichi Tamura,Yasutaka Kamei,Hidetake Uwano,Shuji Morisaki,Tomoko Matsumura,Ken-ichi Matsumoto
定期刊行物名 (journal) 電子情報通信学会技術研究報告
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) 108
号数 (number) 173
ページ範囲 (pages) 61-66
刊行月 (month) 7
出版年 (year) 2008
Impact Factor (JCR)
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付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract) テスト工程での欠陥修正には膨大な再テストが必要になるケースがあり,コストの増大や納期の遅延原因になるばかりでなく,テスト漏れによる2次欠陥の危険も伴う.
本稿では,コードレビューでの見逃し欠陥の修正により必要となる回帰テスト件数を考慮したレビュー手法を提案する.提案手法では回帰テストの件数が大きくなると推定される欠陥を優先的に検出することで,テスト工数の削減が期待される.提案手法の評価として,テスト計画書を用いた本手法でレビューするグループと,特に何も指定せずレビューするグループ間で削減された回帰テスト件数を比較した.その結果,回帰テスト件数を考慮したコードレビュー手法の方が回帰テスト件数の削減に寄与する欠陥をより多く発見できることがわかった.
論文電子ファイル 314.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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