畑秀明, 水野修, 菊野亨, "負例を用いない機械学習によるfault-proneモジュール検出," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2009 (SES2009), pp. 133-138 2009年9月.
ID 918
分類 国内会議(査読付き)
タグ application detection examples fault-prone learning machine module negative without
表題 (title) 負例を用いない機械学習によるfault-proneモジュール検出
表題 (英文) Application of Machine Learning Without Negative Examples to Fault-Prone Module Detection
著者名 (author) 畑秀明,水野修,菊野亨
英文著者名 (author) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2009 (SES2009)
書籍・会議録表題(英文) Software Engineering Symposium 2009
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 133-138
組織名 (organization) 情報処理学会
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2009
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note) 東京
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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