畑秀明, 水野修, 菊野亨, "開発履歴メトリクスに基づくFault-proneモジュール予測の細粒度モジュールへの適用," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2011(SES2011), 4, 2011年9月.
ID 920
分類 国内会議(査読付き)
タグ fine-grained foult-prone historical metrics module modules prediction
表題 (title) 開発履歴メトリクスに基づくFault-proneモジュール予測の細粒度モジュールへの適用
表題 (英文) Historical Metrics Based Fault-Prone Module Prediction for Fine-Grained Modules
著者名 (author) 畑秀明,水野修,菊野亨
英文著者名 (author) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2011(SES2011)
書籍・会議録表題(英文) Software Engineering Symposium 2011
巻数 (volume)
号数 (number) 4
ページ範囲 (pages)
組織名 (organization) 情報処理学会
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2011
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note) 東京
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 利用できません.
BiBTeXエントリ
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