畑秀明, 水野修, 菊野亨, "開発履歴メトリクスを用いた細粒度なFault-proneモジュール予測," 情報処理学会論文誌, 53(6), pp. 1635-1643 2012年6月.
ID 936
分類 論文誌
タグ fault fine-grained historical metrics modules prediction
表題 (title) 開発履歴メトリクスを用いた細粒度なFault-proneモジュール予測
表題 (英文) Fault Prediction on Fine-Grained Modules Based on Historical Metrics
著者名 (author) 畑秀明,水野修,菊野亨
英文著者名 (author) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
キー (key) Hideaki Hata,Osamu Mizuno,Tohru Kikuno
定期刊行物名 (journal) 情報処理学会論文誌
定期刊行物名 (英文) IPSJ Journal
巻数 (volume) 53
号数 (number) 6
ページ範囲 (pages) 1635-1643
刊行月 (month) 6
出版年 (year) 2012
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 利用できません.
BiBTeXエントリ
@article{id936,
         title = {開発履歴メトリクスを用いた細粒度なFault-proneモジュール予測},
        author = {畑秀明 and 水野修 and 菊野亨},
       journal = {情報処理学会論文誌},
        volume = {53},
        number = {6},
         pages = {1635-1643},
         month = {6},
          year = {2012},
}